用于 X 射線、EUV、電子和中子探測的相機

Andor 的 CCD、sCMOS 和 EMCCD 相機產(chǎn)品組合為臺式實驗室和光束線實驗提供了廣泛的高靈敏度、高動態(tài)范圍和快速檢測解決方案。這些探測器特別有利于 EUV、X 射線、中子或電子檢測領(lǐng)域的應(yīng)用,用于材料科學(xué)、等離子體研究、生物樣品分析光束/源表征

全新Marana-X – 高速、直接 X 射線檢測背照式 sCMOS

  • 4.2 百萬像素,6.5 μm 像素大小,74 fps(全陣列)
  • 95% QE 和低噪音真空冷卻
  • X 射線水窗斷層掃描和原位成像和 EUV 光譜的理想選擇

適合您需求的 X 射線、電子和中子探測相機

Andor 提供全面的開放式直接 X 射線探測相機 (SO) 產(chǎn)品組合,還提供采用 Andor 獲得的 UltraVac? 技術(shù)的獨立格式鈹窗 (SY)。Andor 還提供高通量光纖和透鏡耦合間接探測解決方案,以滿足各種需求。

開放式 ('SO') 和獨立式 ('SY')

  • 光譜和成像格式
  • 高 VUV/EUV/XUV 靈敏度
  • 大視場高達 61.4 x 61.7 毫米
  • 深度 TE 制冷至 -100°C
  • 特高壓兼容性

光纖耦合 ('HF')

  • 高達 100 幀/秒
  • 大 FOV 高達 27.6 x 27.6 毫米
  • 550 nm 處高達 95% 的 QE
  • 高通量 FOP
  • 模塊化閃爍體選項

產(chǎn)品參數(shù)

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??Specifications

透鏡耦合

  • 高達 100 幀/秒
  • 大視場高達 61.4 x 61.7 毫米
  • 高達 95% QE @ 550 nm
  • 深度 TE 制冷至 -100°C
  • 高動態(tài)范圍

產(chǎn)品資料

研究從 X 射線到中子和電子的粒子

VUV/EUV/XUV和X射線

中子

科學(xué)相機

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光譜學(xué)

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顯微光學(xué)系統(tǒng)

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軟件

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